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SCAN TEST DEVICE Oberflächenmontage 24-SOIC 74BCT 4,5 V ~ 5,5 V
Technische Information
SN74BCT8374ADW
Hersteller
Texas Instruments
Kategorie
Integrierte Schaltkreise (ICs)
Logiktyp
SCAN TEST DEVICE
Montagetyp
Oberflächenmontage
Verpackung / Behälter
24-SOIC
Serie
74BCT
Versorgungsspannung
4,5 V ~ 5,5 V
Verpackung
Rohr
Bleifreier Status
Lead Free
RoHS Status
RoHS Compliant
Andere Namen
SN74BCT8374ADW
SN74BCT8374ADW
Die gezeigte Abbildung kann vom Original abweichen. Genaue Spezifikationen entnehmen Sie bitte dem Datenblatt.
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC - SN74BCT8374ADW (SN74BCT8374ADW-ND) - Integrierte Schaltkreise (ICs)
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC - SN74BCT8374ADW (SN74BCT8374ADW-ND) - Integrierte Schaltkreise (ICs)
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